Заключение

В представленной работе рассмотрен актуальный способ решения диагностических задач с применением новейших HDL- и FPGA- технологий. Применение этих технологий позволяет:

• сократить время разработки модели диагностируемого устройства;
• уменьшить сложность построения модели;
• ускорить моделирования в результате использования аппаратных технологий;
• ускорить построение тестов дискретных устройств за счет ускорения моделирования.

Применение этих технологий позволяет современной диагностике находится на переднем рубеже научно-технического прогресса, так как эти технологии являются новейшими разработками мирового научного сообщества.

Работа состоит из четырех глав. В первой главе произведен обзор способов синтеза тестов дискретных устройств и проанализированы преимущества и недостатки рассмотренных методов. Во второй главе произведена разработка VHDL-программ анализа теста для модели одиночных константных неисправностей логических схем. В третьей - разработка VHDL-программ анализатора теста. В четвертой главе приведены результаты моделирования и построения тестов диагностируемых устройств.