Тестирование приборов IGBT (БТИЗ) является чрезвычайно важной задачей вследствие широкого их применения в различных областях промышленности.
IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) — биполярный транзистор с изолированным затвором (БТИЗ), силовой коммутационный прибор с высоким входным сопротивлением, низким падением напряжения и способностью работать при высоких уровнях напряжения. Данные компоненты находят чрезвычайно широкое применение в устройствах, связанных с преобразованием энергии, таких как кондиционеры с регулируемой частотой, промышленные инверторы, возобновляемые источники энергии, железнодорожный транспорт, электромобили и т. д.
Применение источников питания серии ADG+ позволяет выполнять тестирование с высоким уровнем точности и надежности. Особенности источников питания ADG+ делают серию идеальной не только для тестирования IGBT (БТИЗ), но и для проведения тестирования солнечных инверторов, электромобилей, аккумуляторных батарей, накопителей энергии, а также использовать их для разнообразных лабораторных применений.
Основные особенности:
С помощью источника питания серии ADG+ в режиме постоянного тока (CC) имитируется возникновение короткого замыкания на устройстве IGBT (БТИЗ). Источники питания серии ADG+ обладают широким диапазоном по напряжению (до 2000 В) и току (от 0 до 2500 А) и полностью соответствуют требованиям, необходимым при проведении испытаний. Необходимые для испытаний параметры (U=15 В и I=0…1200 А) легко устанавливаются с помощью программы Preen, что делает процесс тестирования более удобным.
Благодаря расширенному диапазону по току и напряжению и наличию специализированного программного обеспечения данная серия источников питания позволяет производить тестирование приборов IGBT (БТИЗ) в самом широком диапазоне параметров и с максимальной эффективностью.
Согласно стандарту IEC 60747-9:2007, устройства БТИЗ рассчитываются на определенную рабочую температуру окружающей среды, корпуса IGBT и спая. Температурные испытания проводятся, чтобы убедиться, что характеристики IGBT (БТИЗ) соответствуют требованиям технической документации на устройство. Для данных испытаний используется регулирование выходного тока источников питания серии ADG+.
Благодаря возможности параллельного соединения серия ADG+ позволяет при необходимости легко наращивать ток (мощность) и проводить успешное тестирование устройств IGBT в широком диапазоне параметров для различных научно-исследовательских применений.
При проведении температурных испытаний применяется регулирование выходного тока источников питания серии ADG+. Если достичь требуемого уровня тока с помощью одного модуля невозможно, то имеется опция параллельного соединения модулей. Это позволяет увеличивать значение выходного тока и мощности источника питания и проводить тестирование устройств IGBT (БТИЗ) в более широком диапазоне параметров при проведении различных испытаний и исследований.