В данной работе была разработана и реализована в виде программы простейшая модель системы многозначного параллельного логического моделирования МОП СБИС на переключательном уровне.
В работе исследованы основные методы и алгоритмы этой системы, описана её внутренняя структура и общая схема функционирования.
Разработаная системы предназначена для моделирования исправных и неисправных дискретных устройств, изготовленных по МОП-технологиям.
Проведен анализ существующих подходов и средств к моделированию исправных и неисправных дискретных устройств, изготовленных по МОП-технологиям. Рассматривались пути повышения адекватности моделирования электронных БИС на переключательном уровне, что является особенно необходимым при генерации тестов для обнаружения неисправностей в МОП-структурах. Основополагающим положением для моделирования является то, что конечность числа преобразователей сигналов (транзисторы, резисторы и емкости) и конечность используемого набора сигналов принципиально позволяют выразить соотношения между компонентами сигналов для каждого типа преобразователя и далее всей схемы булевыми выражениями.
Возможность параллельных вычисления для булевых выражений позволяет эффективно реализовывать предложенные алгоритмы в дальнейшем для моделирования неисправностей и псевдослучайной генерации проверяющих тестов.