Abstract

Content

Introduction

Theme urgency

As it is generally known, one of the main problems of electronic radio and computer equipment is diagnostic engineering or search of faulty components. For modern electronic radio and computer equipment devices built on large and very large scale integration this problem can be solved with a help of «Boundary Scan» technology. This technology is the most perfect, and for those diagnosing objects which are based on large and very large scale integration with BGA outlines «Boundary Scan» technology leaves no alternative, because BGA packaging doesn’t provide physical access to contacts.

Today «Boundary Scan» technology is the most perfect, however, firstly, it can be used only for diagnosing objects based on large and very large scale integration, secondly, large and very large scale integration should contain special intrinsics, oriented on this technology.

Unfortunately, today CIS electronic radio and computer equipment market, including Ukrainian one, still abounds in traditional technics, produced in the Soviet Union time without the accounting of «Boundary Scan» technology requirements. According to conclusions of a practice, the fault lookup for such devices can be solved efficiently using the method of probe diagnostics. That’s why the topic of this master research work, directed on the optimization of the ways of testing reactions’ pickup of probe diagnostics objects, is topical.

The subject of research and the probe diagnostics

The subject of inquiry of this research work is algorithm of choosing the ways of testing reactions’ pickup in the course of probe diagnostics according to the structure of diagnosing objects. The probe diagnostics object is digital standard substitute elements for electronic radio and computer equipment.

The purpose and objectives of the research work

The objective of this research work is development of algorithms for determination of testing reactions’ pickup, the probe fault lookup of digital circuits in consideration of technological features of the real circuits. For realization of the objective the following tasks are given in this work:

  1. Surveying and investigation of automatic fault detection system (standard substitute elements).
  2. The analysis of failure detection requirements and substantiation of ways to analyze testing reactions of standard substitute elements.
  3. The algorithm development for choosing the ways to analyze testing reactions in consideration of technological features of standard substitute elements.
  4. The development of experimental software for choosing the ways to analyze testing reactions of standard substitute elements and analysis of received results.

The method of research

The following methods were used by researching: the analysis of literature sources, the development of software for checking the functionality of developed algorithms, theory of matrices, graph theory, experimental research to estimate the efficiency of performed optimization.

Scientific novelty and the expected results

In this research work will be suggested the algorithms of choosing the ways to analyze testing reactions in consideration of technological features of standard substitute elements.

The practical value of received results

The real systems of probe diagnostics can be developed on basis of introduced algorithms.

The approbation of research work

The approaches to realization and results of the research work are planned to be reported on the Ukrainian scientific and technical conference of students, postgraduates and young students, postgraduates and young researchers “Information and computer technologies 2013” which will be held in Donetsk.

The structure of master’s research work

This research work consists of the introduction, four parts, conclusions and the list of references.

References

  1. Бухтеев А. Методы и средства проектирования систем на кристалле – Режим доступа: http://www.chipinfo.ru/...
  2. Тоценко В.Г. Алгоритмы технического диагностирования дискретных устройств - М.: Радио и связь, 1985. - 240с.
  3. Гуляев В.А. Организация систем диагностирования вычислительных машин – Киев: Наукова думка, 1979. - 116 с.
  4. Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Основы технической диагностики: Оптимизация алгоритмов диагностирования, аппаратурные средства – М: Энергия, 1981. – 320 с.
  5. Автоматизация диагностирования электронных устройств / Ю.В. Малышко, В.П. Чипулис, С.Г. Шаршунов. – М.: Энергоатомиздат, 1986. – 216 с.
  6. Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве / Ясинявичене Г.М., Бургис Б.В. и др., - М: Радио и связь, 1989. – 120 с.
  7. Крейг, Пиног. Внутрисхемные испытания с применением сигнатурного анализа // Электроника, 1979, т.52, N11, с.64-70.
  8. Байда Н.П., Кузьмин И.В., Шпилевой В.Т. Микропроцессорная система поэлементного диагностирования РЭА - М.: Радио и связь, 1987. - 256с.
  9. Самообучающиеся анализаторы производственных дефектов РЭА / Н.П. Байда, В.И. Месюра, А.М. Роик – М.: Радио и связь, 1991 – 257 с.
  10. Техническая диагностика элементов и узлов персональных компьютеров / В.И. Хаханов - К.: ИСИО, 1997. - 308 с.
  11. Львович Г.А., Хавкин В.Е. Самодиагностирование микропроцессорных систем - М.: ЦНИИ "Электроника", 1985. - 54с.
  12. Киселев В.В., Кон Е.Л., Шеховцов О.И. Автоматизация поиска дефектов в цифровых устройствах - Л.: Энергоатомиздат, 1986. - 96с.
  13. Проектирование внешних средств автоматизированного контроля РЭА / Под ред. Пономарева Н.Н. - М.: Радио и связь, 1984. - 296с.
  14. Львович Г.А., Самощенко А.В., Хавкин В.Е. Диагностирование микропроцессорных систем // Обзоры по электронной технике. Сер. Микроэлектроника, 1987, Вып.7-83с.
  15. Гробман Д.М. Локализация дефектов цифровых схем // АВТ, 1983, N2, c.79-84.
  16. Гробман Д.М. Автоматизация поиска дефектов логических схем // АВТ. - 1979, N1, с.33-35.
  17. Соколов Ю.А. Анализ технических средств зондового поиска неисправностей в дискретных устройствах - Вопросы радиоэлектроники. Сер. ЭВТ, 1978, вып.11, с.73-79.
  18. Соколов Ю.А. К вопросу зондового поиска неисправностей // Вопросы радиоэлектроники. Сер. ЭВТ-1979. Вып.11, с.18-23.
  19. Соколов Ю.А. Анализ технических средств зондового поиска неисправностей в дискретных устройствах // Вопр. радиоэлектроники. Сер. ЭВТ. 1978, вып.11, с.73-80.
  20. Соколов Ю.А. К вопросу поиска неисправностей // Вопр. радиоэлектроники, Сер. ЭВТ, 1980, вып.12, с.51-55.
  21. Молов В.К., Тарасенко В.П. Структурно-аналитический метод поиска неисправностей //Автоматика и вычислительная техника - 1984, с. 72-78.
  22. Сперанский Д.В., Черевко Н.В. О сокращении числа зондовых проб при диагностировании цифровых устройств // Электронное моделирование - 1992, N 3., c. 56 - 62.
  23. Зинченко Ю.Е., Хатейт Ю. Стратегия поиска неисправностей системы зондовой диагностики / Теоретическая и прикладная информатика. Науч.-техн. конф.. Тезисы докладов. – Донецк, 1993. – С. 59.
  24. Зинченко, Ю. Е., Козинец, А. М., Жилин, К. Н. Проблемы зондового поиска неисправностей и пути их разрешения // Сборник трудов Донецкого государственного технического университета. Серия: Информатика, кибернетика и вычислительная техника, выпуск 6. – Донецк: ДонГТУ, 1999. – С. 212-217.
  25. Воротынцев, Н.В., Зинченко, Ю.Е. Поиск неисправностей цифровых ТЭЗ по алгоритму ведомого зонда со «статической оптимизацией» // Сборник трудов первой международной студенческой научно-технической конференции – 15 декабря 2005 г. – Донецк : ДонНТУ, 2005. – С. 321-322.
  26. Деменко, А.Г., Ханаев, В.В., Зинченко, Ю. Е., Зинченко, Т. А. Проблемы минимизации количества перестановок зонда в процессе поиска неисправностей по методологии «ведомого зонда» // Сборник трудов III научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых – 16-18 апреля 2012 г. – Донецк : ДонНТУ, 2012.
  27. Зинченко Ю. Е. – Научные интересы и разработки [Электронный ресурс]. – Режим доступа: http://hardclub.donntu.ru/...
  28. А.с. N883918 G06F 15/46. Устройство для контроля неисправностей цифровых узлов (С.С.Ширяев и др.) Локализация неисправностей ИС в кольце МС.
  29. Тестово-диагностический комплекс – Автоматизированная система диагностики ТЕСТ-Д для ремонта электронных промышленных устройств [Электронный ресурс]. – Режим доступа: http://mages.chat.ru/...
  30. Корченко А.А., Зинченко Ю.Е.. Оптимизация адаптивного подхода генерации псевдослучайных тестов // Наукові праці ДонНТУ. Серія «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2012). Випуск 10. – Донецьк: ДонНТУ. – 2012. – с 60-78.
  31. Корченко А.А., Зинченко Ю.Е. Распределенные вычисления в системе генерации псевдослучайных адаптивных тестов // «Информатика и компьютерные технологии», сборник трудов VIII международной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых – 18-19 сентября 2012 г., Донецк, ДонНТУ. – 2012. В 2-х томах, Т. 1. – С. 96-98.
  32. Зинченко Ю., Калашников В., Хайдук С. И др.. FPGA-технологии проектирования и диагностика компьютерных систем / Сборник научных трудов VI Междунар. научн.-практ. конф. «Современные информационные технологии и ИТ-образование». - Москва: МГУ, 2011. - Т. 1. 787 С. 422-429, - электрон. опт. диск (CD ROM). ISBN 978-5-9556-0128-1 Режим доступа: http://conf.it-edu.ru/...
  33. Зинченко Ю.Е., Корченко А.А.. Адаптивный подход к генерации псевдослучайных тестов цифровых устройств // Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2011). Випуск 9 (179): – Донецьк: ДонНТУ. – 2011. – С. 360-365.