Rajendra S. Katti Test Pattern Generation and Signature Analysis for Burst Errors. Язык английский. PDF 124КБ.
В данной статье частично рассматриваются основы сигнатурного анализа и приводятся новые теоремы по теме. Рассматриваются возможности обнаружения пакетов ошибок сигнатурным анализатором с некоторыми модификациями. В книге приведены примеры тестирования.
Источник: IEEE Transactions on circuits and system-II: analog and digital signal processing, vol. 45, NO. 3, March 1998
 

Kuen-Jong Lee, Wei-Lun Wang and Jhing-Fa Wang A General Structure of Feedback Shift Registers for Built-In Self Test. Язык английский. RTF 859КБ.
В данной работе рассматривается общая структура сдвиговых регистров с обратной связью. Рассматриваются проблемы при использовании линейных сдвиговых регистров с обратной связью. Для решения некоторых проблем, авторы предлагают обобщенный тип сдвиговых регистров.
Источник: Journal of information science and engineering 14, 645-667 (1998).
 

Сигнатурный анализ с использованием сдвиговых регистров
В данной статье неизвестного автора кратко, но доступным и понятным языком, описываются основы метода сигнатурного анализа. Также в статье приведен пример.
Источник: goethe.ira.uka.de/~goerke/shiftreg/Signature-analysis_ru.html
 

Franc Novak On Analog Signature Analysis. Язык английский. PDF 90КБ.
В данной статье формализуется проблема аналогового сжатия данных и анализируется существование полиномиальной функция сжатия данных. Исследуется использование цифровой сигнатуры в аналоговой области.

James E. Smith Measures of the Effectiveness of Fault Signature Analysis Язык английский. RTF 44КБ. В данной статье исследованы меры эффективности использования линейных регистров сдвига обратной связи для обнаружения ошибок в логических сетях. 
Источник: журнал IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, VOL. C-29, NO. 6, JUNE 2002
Данную статью на русском языке можно посмотреть по следующей ссылке
Меры эффективности нахождения ошибок

Сигнатурный анализатор DiagnoSYS InterV3 Язык русский. PDF 253КБ. Схема сигнатурного анализатора DiagnoSYS InterV3

Диагностические системы контроля сборки и тестирования электронной техники. ОАО "Техно" Язык русский. PDF 276КБ.

Конференция "Информатика и компьютерные технологии 2005"  15.12.2005г. Секция 7. «Искусственный интеллект и нейросетевые технологии» Фомина Е.А., Барашко А.С. Исследование качества многоканальных сигнатурных анализаторов .