Встраиваемая система самоконтроля
Авторы: Brian HarringtonИсточник: http://www.analog.com/library/analogDialogue/archives/42-02/bist.html
Перевод с английского: Блинов Ю.В.
Встроенный самоконтроль (BIST), когда-то был прерогативой сложных цифровых схем, теперь его можно найти во многих относительно небольших устройствах. Переход на новые технологии производства плат позволил включить BIST функциональность в некоторые новые устройства. Для производителей схем встроенный самоконтроль позволяет упростить и сократить время на производственные испытания. Системы самоконтроля тесно взаимодействуют с другими системами, что приводит к усложнению и укрупнению структуры устройства, но повышает надёжность.
На системном уровне, BIST функциональность может быть использована на этапе проектирования для характеристики времени взаимодействие между цифровым процессором и преобразователем. Без BIST, биты с ошибками в цифровых интерфейсах должны быть обнаружены отслеживая изменения в уровня шума. Такой тип обнаружения ошибок менее точен, чем цифровой подход используемый в BIST, основанный на проверке сигнатуры. Такая же функциональность может быть обеспечена, при проведении тестов на производственном уровне.
Рисунок 1 показывает основу построения BIST. Включение BIST ведёт к добавлению в устройство трех функциональных блоков: генератора тестов, сигнатурного анализатора, а также контроллера тестов. Генератор подаёт тестовые воздействия на входы тестируемого устройства (CUT). Сигнатурный анализатор сжимает полученные с выходов CUT тестовые реакции. Тест контроллера координирует процесс тестирования и обеспечивает простой внешний интерфейс.
Зачастую генератор тестов и сигнатурный анализатор строятся на регистре сдвига с линейной обратной связью. Сдвиговый регистр с n триггеров показан на рисунке 2. Такого рода модель генератора псевдослучайных последовательностей разрядностьюn, может произвести 2 n -1 уникальных комбинации (все возможные комбинации, за исключением всех нулей).
Рисунок 2 – Основной компонент BIST(РСЛОС)
Сигнатурный анализатор также может быть построен с использованием РСЛОС. Анализатор позволяет сжать большой объём данных в сигнатуру. Сигнатуру можно будет сравнить с ожидаемыми результатами, для проверки правильного функционирования устройства. При сжатии есть шанс пропустить ошибку, но он достаточно низок.
Сигнатурный анализ позволяет определить была ли ошибка но не тип ошибки. Тем не менее, Некоторую информацию можно получить, например, применением специфических видов тестовых воздействий к разным входам.
Ожидается, что включения схемы BIST в преобразователи данных и другие устройства будет всё более распространенным , поскольку эти устройства становятся всё более компактными. Увеличение скорости обмена, делает необходимой проверку, что эти интерфейсы работают без ошибок. Ищите способы использования функциональности BIST для повышения уровня тестируемости системы .
К списку статей