RUS |
ДонНТУ ||
Портал магистров ДонНТУ
Блинов Юрий Валерьевич
Факультет компьютерных наук и технологий
Специальность: Компьютерные системы и сети
«Разработка и исследование методов и структур аппаратной генерации тестов и анализа тестовых реакций на базе FPGA»
Библиотека по теме выпускной работы
Переведенные статьи
1. Сравнение генетических и случайных методов генерации тестов(RUS)
Comparison of Genetic and Random Techniques for Test Pattern Generation(ENG) [PDF]
В статье даётся краткое описание исследуемого авторами генетического алгоритма. Приводится сравнение результатов тестирования схем исследуемым алгоритмом, другим генетическим алгоритмом и алгоритмом основанном на генерации псевдослучайных последовательностей.
Авторы: E.Ivask, J.Raik, R.UbarПеревод с английского: Блинов Ю.В.
Источник: http://www.citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/download?doi=10.1.1.59.8973
2. Встраиваемая система самоконтроля BIST(RUS)
BIST for Analog Weenies(ENG)
В статье рассказывается о назначение и роли встраиваемой системы самотестирования в современных устройствах. Рассказывается о структуре такой системы, и даётся описание её составляющих.
Автор: Brian HarringtonПеревод с английского: Блинов Ю.В.
Источник: http://www.analog.com/library/analogDialogue/archives/42-02/bist.html
Специализированные статьи
3. Применение логических анализаторов в тестировании цифровой техники
В статье описаны эксплуатационные возможности и функциональные особенности современных логических анализаторов
Автор: Михаил Перцовский, Евгений Воробьев, Алексей ТрифоновИсточник: http://www.cta.ru/cms/f/?/366656.pdf
4. Логические анализаторы – цифровые детективы
Даётся описание и характеристики некоторых современных логических анализаторов.
Автор: Э.Рувинова.Источник: http://www.electronics.ru/pdf/1_2003/07.pdf
5. Cинтез псевдослучайных контролирующих тестов для дискретного устройства [pdf]
В статье рассматривается псевдослучайный метод построения контролирующих тестов для дискретных устройств, применимый как к комбинационным, так и к последовательностным устройствам.
Автор: И.В.УколовИсточник: http://www.sgu.ru/files/nodes/37509/Ukolov(64-70).pdf
6. Pseudo-Random Test Pattern Generation [pdf]
Автор рассматривает алгоритм взвешенной псевдослучайной генерации тестов.Также он знакомит читателя с форматом ISCAS 85(набор схем, на которых тестируются новые алгоритмы генерации тестов).
Автор: Prof.Indranil SenguptaИсточник: http://www.stanford.edu/~sidseth/files/weighted_pseudo_random.pdf
7. Parallel Signature Analysis Design with Bounds on Aliasing [pdf]
В статье рассматривается разработка параллельного сигнатурного анализатора, который гарантирует вероятность наложения не менее 2 / L, где L является длины теста.
Авторы: Nirmal R.Saxena,Edward J. McCluskeyИсточник: http://crc.stanford.edu/crc_papers/parallel_signatures1.pdf
8. A genetic implementation of stuck at fault and delay fault identification in digital circuits [pdf]
В статье рассматривается генетический алгоритм. Требования, предъявленные к алгоритму, подразумевают, что он будет иметь минимальную длинну и покрывать все существующие константные неисправности и неисправности связанные с задержками сигналов.
Авторы: Dhiraj Sangwan, Rajesh Kumar & Mukesh KumarИсточник: http://www.csjournals.com/IJEE/PFD1-1/22_Dhiraj_Sangwan_Rajesh_Mukesh.pdf
9. On Calculating Efficient LFSR Seeds for Built-In Self Test [pdf]
В статье рассматриваются методы и приводится пример расчёта оптимальной длинны регистра сдвига с линейными обратными связями .
Авторы: C.Fagot O.Gascuel P.Girard C.LandraultИсточник: https://www.lirmm.fr/mab/IMG/pdf/FGGL-ETW-99.pdf
10. An Algorithm for Diagnostic Fault Simulation [pdf]
В данной работе авторы описывают принципы моделирования неисправностей в цифровых схемах.
Авторы: Y.Zhang, V.D.AgrawalИсточник: http://www.eng.auburn.edu/~agrawvd/TALKS/LATW10/latw10_yu_new6.pdf