Автореферат
Отчёт о поиске
Библиотека
Ссылки
Сабвуферы
Факультет ВТИ
Кафедра ЭВМ
Преподаватели кафедры
Портал магистров ДонНТУ
Библиотека ДонНТУ
Методический центр
 

Автореферат

 

Автореферат на магистерскую работу по теме «Разработка и исследование структуры поста контроля для тестирования аналогово-цифровых ТЭЗ на основе цифровой обработки сигналов».

 

План работы.

Введение.

Современный мир просто немыслим без техники. Она настолько прочно вошла в нашу жизнь, что мы порой даже не замечаем, как часто имеем дело с ней. С развитием цифровых технологий связан новый этап эволюции техники: она становится всё компактнее, быстрее, умнее. Цифровые схемы прочно вошли в нашу жизнь и заняли позицию надежного и верного помощника. Однако, наряду с цифровыми, существовали и будут существовать аналоговые и аналогово-цифровые схемы. Они представляют собой механизмы сопряжения цифровых схем с окружающей средой. В чистом виде аналоговые схемы могут встречаться в источниках питания, различных генераторах и т.д. Как и любые схемы имеют тенденцию выходить из строя, так и исследуемый класс аналоговых и аналогово-цифровых схем, разработанных уже с десяток лет назад, тоже часто содержит неисправности.

Актуальность темы.

Борьбу за устранение дефектов и поломок в исследуемых схемах ведут автоматизированные системы диагностики. Количество таких систем постоянно растёт. Наиболее известными производителями таких систем являются Teradyne, Agilent, World Test Systems, DMT и другие.Важно заметить, что систем диагностики цифровых схем на рынке оборудования существует огромное количество. Системы же тестирования аналоговых схем представлены не так широко.Современная система диагностики должна решать следующие задачи:

  • проверка исправности аналогового блока;

  • измерение параметров исследуемой схемы (входных, выходных, передаточных характеристик);

  • поиск и локализация неисправности в схеме.

По аналогии с цифровыми схемами здесь должна применяется технология «зондовой диагностики». Однако, в отличие от цифровых схем, необходимость генерации тестовых реакций и прослеживания их в контрольных точках не является всеобъемлющим подходом. Для диагностики аналоговой части схемы необходимо наличие универсального генератора аналоговых сигналов с различной амплитудой, частотой, формой импульса и т.д. Кроме того, диагностический комплекс должен обладать мощными средствами для измерения и визуализации полученных на выходах схемы реакций. Всеми этими качествами обладает современная ЭВМ.  

Цели и задачи работы.

Целью данной работы является разработка структуры универсальной системы диагностики аналоговых и аналогово-цифровых схем.В состав универсальной системы диагностики входят:

  • устройство зондирования;

  • устройство выдачи и сбора зондовой информации;

  • программное обеспечение ЭВМ;

  • устройства преобразования АЦП и ЦАП.

Устройство зондирования должно обеспечивать возможность подачи аналогового сигнала на входы устройства и снятия реакция с его выходов, а также контрольных точек.Устройство выдачи и сбора зондовой информации должно выполнять следующие функции:

  • выдача тестовых сигналов на объект диагностирования;

  • сбор тестовых реакций на выходах объекта или в его контрольных точках;

  • построение входных, выходных и передаточных характеристик объекта диагностики;

  • обмен информацией с ЭВМ.

Устройства преобразования ЦАП и АЦП должны обеспечивать преобразование выдаваемых ЭВМ сигналов в аналоговые и оцифровку данных, собранных с объекта.Программное обеспечение ЭВМ должно выполнять функции:

  • генерация и выдача на объект тестовых сигналов;

  • управление перестановками зонда;

  • анализ реакций, полученных в точках тестирования;

  • определение неисправности.

Предполагаемая научная новизна и планируемая практическая ценность.

Научная новизна данной работы заключается в попытке применения технологии синтеза тестов и анализа тестовых реакций для тестирования аналоговых и аналогово-цифровых схем. Такой подход создаст возможность рассмотрения схем, созданных по смешанной технологии, как единого целого. Тестовый комплекс с разрабатываемой структурой должен обладать такими качествами как компактность, универсальность, точность и скорость определения неисправности.Планируемая практическая ценность работы заключается в возможности применения данной технологии для диагностирования и ремонта электронных самого различного назначения.  

Локальный обзор по теме.

Тема диагностики цифровых схем довольно широко раскрыта в статье «Проблемы зондового поиска неисправностей и пути их разрешения» (Зинченко Ю.Е., Козинец А.М., Жилин К. Н.). Данная работа посвящена анализу классических проблем задачи зондовой диагностики электронных схем: минимизации перестановок зонда , локализации неисправности с точностью до съемной компоненты и проблему минимизации внешней памяти системы ЗД . Несмотря на то что эти задачи стали уже классическими ученые-диагносты по прежнему ведут исследования в этом направлении. Статья «Синтез оптимальных структур сигнатурных анализаторов» (Зинченко Ю.Е.) посвящена проблемам разработки структур сигнатурных анализаторов тестовых реакций. Рассматриваются проблемы максимально возможного сжатия тестовых реакций, компенсации ошибок.Статья « FPGA- и HDL-технологии и проектирование диагностического обеспечения на их основе» (Зинченко Ю., Тарасенко А., Маркитантов В., Прокопченко В., Мирошников А., Рытов А.) посвящена проблеме разработки диагностического оборудования на базе FPGA- и HDL-технологий, основанных на использовании БИС с перестраиваемой архитектурой типа FPGA и CPLD и языков программирования аппаратуры, таких как VHDL и VERILOG.Кроме того, данная тема освящена работой магистра ДонНТУ Бобровкиого К.В на тему «Разработка структуры поста контроля зондовой диагностики ТЭЗ на базе HDL- и FPGA-технологий». В данной работе рассматриваются существующие системы зондовой диагностики цифровых схем, а также разработана структура поста контроля для диагностики цифровых ТЭЗ.  

Обзор существующих систем диагностики.

Система Javelin 1004 с роботизированными зондами фирмы Teradyne.

Система автоматизированной диагностики для плат с поверхностным монтажом (рисунок 1). Использует четыре управляемых зонда одной длины. Независимое движение зондов происходит в одной плоскости, что повышает точность их позиционирования и воспроизводимость результатов. Автоматический конвейер оптимизирует передвижение печатного узла (ПУ) через тестер. Время измерения – меньше 50 мс на один этап теста.

Рисунок 1 - Система Javelin 1004
Рис. 1 – Система Javelin 1004

 

Javelin 1004 удовлетворяет условиям мелкосерийного производства и производства крупных ПУ. Быстрая адаптация к новым условиям контроля и новой конфигурации ПП составляет одно из наиболее важных свойств системы. Малое время программирования, гибкость и простота установки делают ее подходящим прибором для контроля опытных образцов. Модули так называемого безвекторного контроля (рис. 2) расширяют покрытие неисправностей для любой ИС, в том числе с BGA и теплоотводами, а также соединителей. Система технического зрения с видеокамерой автоматически проверяет присутствие и ориентацию ИС.

Рисунок 2 – Безвекторный контроль
Рис. 2 – Безвекторный контроль  

 

Система внутрисхемного контроля TestStation 12X фирмы GenRad

Усовершенствованная система семейства TestStation (рис. 3) Выполняет все функции контроля ПУ семейства:

  • определение разрывов и коротких замыканий;

  • безвекторный контроль;

  • контроль дискретных аналоговых компонентов;

  • цифровой векторный контроль;

  • периферийное сканирование при сокращенном доступе;

  • контроль компонентов со смешанными сигналами;

  • функциональный контроль в современных производственных условиях.

Рисунок 3 – Система TestStation 12X
Рис. 3 – Система TestStation 12X

 

Аналоговая и цифровая подсистемы синхронизированы. Аналоговая подсистема обеспечивает измерение напряжения от 0 до +200 В, тока от 0 до +160 мА, содержит модуль с программируемой частотой от 15 Гц до 100 кГц, высоковольтный источник питания. Цифровая подсистема характеризуется 26 программируемыми запускающими уровнями от +5,5 до -2,5 В, автоматической верификацией управления на каждом контакте.

Таблица 1 – Технические характеристики системы TestStation 12X

Параметр

Значение

Зонды

четыре наверху, стационарный зонд под ПУ

Скорость измерения

до 20 тестов в секунду

Минимальное разрешение позиционирования

10 мкм

Повторяемость позиционирования

±10 мкм

Минимальный шаг зонда

0,2 мм

Ход зонда

6–30 мм в зависимости от программы

Диапазон измерений:

резисторов

4 Ом–40 МОм, 10 мОм–100 Ом

конденсаторов

10 пФ–400 мФ

катушек индуктивности

10 мкГн–400 Гн

коротких замыканий/разрывов

5 Ом–4 МОм

Максимальные размеры контролируемой ПП

600х510 мм

Толщина платы

0,8–3,2 мм

Высота компонента:

на верхней стороне ПП

30 мм

на нижней стороне ПП

100 мм

Электропитание

200–240 В переменного тока

Габариты

1690х1430х1670 мм

Масса

1100 кг

Зонды

четыре наверху, стационарный зонд под ПУ

 

Зондовая система Pilot LX фирмы GenRad

Система производственного контроля (рис. 4) предназначена для гибкого, полного и экономически эффективного тестирования крупных ПУ с ограниченным доступом малых серий, а также опытных образцов. Содержит четыре управляемых зонда для верхней стороны ПУ и шесть фиксированных зондов для нижней стороны. Подсистема технического зрения имеет две камеры, одна из которых проводит оптический контроль и оцифровку ПП, а вторая используется во время разработки теста, наладки и производства.

Рисунок 4 – Cистема Pilot LX
Рис. 4 – Cистема Pilot LX

Система способна:

  • проводить периферийное сканирование

  • цифровой и безвекторный контроль ИС.

Таблица 2 – Технические характеристики системы Pilot LX

Параметр

Значение

Разрешение позиционирования зондов по X и Y

2,5 мкм

Максимальные размеры контролируемой ПП

610х610 мм

Максимальная толщина контролируемой ПП

5 мм

Максимальная высота компонентов:

на верхней стороне ПП

44 мм

на нижней стороне ПП

100 мм

Измеряемое напряжение постоянного тока

±50 В

Диапазон измерения:

резисторов

0,1 Ом–200 МОм

конденсаторов

10 пФ–1000мкФ

катушек индуктивности

10 мкГн–1 Гн

частоты

до 1 МГц

Габариты системы

1700х1680х1240 мм

Масса

1577 кг

Электропитание

~110/220 В (2500 Вт)

 

Зондовая система AutoPoint II фирмы DiagnoSYS Systems

Система AutoPoint II (Рис. 5) может сопрягаться с широким спектром контрольно-измерительных приборов. Варианты системы используют один или два управляемых зонда и максимальное число (16) опорных зондов. Система представляет идеальное решение для отбраковки и контроля ПУ малых серий.

Рисунок 5 – Cистема AutoPoint II
Рис. 5 – Cистема AutoPoint II

 

Программные средства сигнатурного анализа Interv3 позволяют проводить анализ на незапитанном ПУ, что обеспечивает неразрушающий контроль любого компонента на ПП.

Таблица 3 – технические характеристики AutoPoint II

Параметр

Значение

Число управляемых зондов

1

Скорость перемещения зонда

25 мм/с

Разрешающая способность

1 мкм

Точность позиционирования

±25 мкм

Максимальные размеры контролируемой ПП

600х600 мм

Максимальная высота контролируемого ПУ

100 мм

Потребляемая мощность системы

500 Вт

 

 Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д» производства ООО «Трейлер»

Рисунок 6 – Система диагностики «ТЕСТ-Д»
Рис. 6 – Система диагностики «ТЕСТ-Д»

 

Система предназначена для диагностики и ремонта промышленных электронных устройств (рис. 6). Комплекс приборов, входящих в состав системы, реализует методы:

  • функционального тестирования;

  • сигнатурного тестирования;

  • внутрисхемного тестирования.

Таблица 4 – технические характеристики системы «ТЕСТ-Д»

Параметр

Значение

Число каналов канала ввода-вывода

190 (95)

Уровни сигналов

ТТЛ, КМОП

Максимальный уровень логической единицы

15V

Максимальный уровень логического нуля: 

     в режиме вывода

0,4V

     в режиме ввода

0,8V

Максимальный ток при уровне логического нуля:

     в режиме вывода

40 mA.

     в режиме ввода

0,8 mA.

Зонд логический (IN-зонд):

     уровень логической единицы

от 2,0 V до 15 V

     уровень логического нуля

от -15 V до 1,0 V

Входное сопротивление

20 кОм

Зонд генератор (OUT-зонд):

     уровень логической единицы не менее

2,4 V

     уровень логического нуля не более

0,8 V

Максимальный выходной ток

200 мА

 

Комплекс измерительный параметров микросхем и устройств ДМТ–119/1

Рис. 7 – Измерительный комплекс ДМТ-119/1.

 

Комплекс ДМТ–119/1 представляет собой сложный программно–аппаратный комплекс, объединяющий в своем составе четыре аналоговых и шестнадцать цифровых каналов измерения параметров сигналов, канал измерения сигнала в диапазоне частот от 100 Гц до 3 ГГц, четыре канала источников питания постоянного тока и канал генерирования синусоидальных сигналов в диапазоне частот от 250 кГц до 3 ГГц.Комплекс ДМТ–119/1 предназначен для расширения возможностей Комплекса ДМТ–119 и работы с ним под управлением одной управляющей ПЭВМ. Конструктивно комплекс выполнен в виде шкафа с установленными в него отдельными приборами, объединенных с помощью шины GPIB в единый измерительный комплекс под управлением внешней управляющей ПЭВМ.

Комплекс ДМТ–119/1 предназначен для:

  • Воспроизведения и измерения аналоговых сигналов;

  • Измерения до 16 каналов цифровых сигналов;

  • Подачи аналоговых сигналов на измеряемую ИМС или измеряемое устройство;

  • Измерения отклика измеряемой ИМС или измеряемого устройства на поданный сигнал;

  • Измерения параметров АЦП и ИМС смешанных сигналов (до 16 цифровых и 2 аналоговых).

  • Измерения спектральных и шумовых параметров измеряемых ИМС и устройств;

  • Автоматизированного построения АЧХ измеряемых ИМС и устройств;

  • Воспроизведение и измерение постоянного напряжения/тока для питания измеряемых ИМС и устройств;

  • Совместной работы с Комплексом ДМТ–119 для измерения аналоговых ИМС и устройств со сложными формами воспроизведения и измерения сигналов;

  • Совместной работы с Комплексом ДМТ–119 для увеличения каналов воспроизведения и измерения сигналов;

  • Совместной работы с цифровыми тестерами при измерениях параметров ЦАП, АЦП и ИМС смешанных сигналов.

Основные цели и задачи при проведении входного контроля с помощью Комплекса ДМТ–119:

  • проведение НИР и НИОКР. Возможность проведения входного контроля поступающих на предприятие аналоговых ИМС;

  • анализ поведения аналоговых ИМС при имитационных испытаниях;

  • создание базы по методологии выявления неисправностей, для предотвращения отказов;

  • приведение методологии измерений и испытаний в соответствие с современными требованиями;

Экономический эффект проведения входного контроля

  • уменьшение вероятности отказов

  • покупка аналоговых ИМС для обыкновенных применений и продажа уже как комплектации для специального применения или покупка кристаллов и корпусирование их на своем производстве

  • импортозамещение в области услуг такого рода. Расходы на эти цели очень значительны.

  Таблица 5 – Технические характеристики комплекса ДМТ–119:

Каналы воспроизведения сигналов произвольной формы 1 и 2

Частота дискретизации сигнала

200 Мвыб./с

Количество точек в форме выходного сигнала

от 64 до 4050000

Выходное сопротивление

50 Ом

Диапазон амплитуд выходного сигнала

от 20 мВ до 5 В

Диапазон постоянного напряжения смещения в выходном сигнале

от минус 2,5 В до 2,5В

Каналы воспроизведения сигналов специальной формы 3 и 4

Частота воспроизводимых колебаний

от 0,001 Гц до 200 кГц

Пределы допускаемой относительной погрешности установки частоты

±(0,0025 % + 4 мГц)

Диапазон амплитуд выходного сигнала (однополярный выход):
нагрузка 50 Ом
нагрузка 600 Ом
высокоомная нагрузка


от 5 мкВ до 14,4 В
от 5 мкВ до 20,0 В
от 10 мкВ до 40,0 В

Балансн. выход:
нагрузка 50 Ом
нагрузка 600 Ом
высокоомная нагрузка


от 10 мкВ до 28,8 В
от 10 мкВ до 40,0 В
от 20 мкВ до 80,0 В

Разрешение установки амплитуды сигнала, мкВ

1

Пределы допускаемой относительной погрешности установки амплитуды, %

±1

Спектр шумоподобного сигнала, кГц

200

Измерительные каналы 1 и 2

Максимальная частота дискретизации для однократных сигналов, ГГц

4 (для одного канала)

Вертикальный канал

Полоса пропускания для повторяющихся сигналов (на уровне минус 3 дБ), МГц

от 0 до 500 МГц

Максимальное входное напряжение, В

300В ср,кв; 400В пик

Входное сопротивление

1 МОм, 50 Ом

Входная емкость, пФ, не более

13

Горизонтальный канал

Коэффициенты развертки

от 1 нс/дел до 50 с/дел

Разрешение, пс

2,5

Измерительные каналы 3, 4, 5, 6

Полоса пропускания аналогового сигнала (на уровне 3 дБ), МГц

от 0 до 90

Входное сопротивление

50 Ом или 1 МОм

Входная емкость, пФ, не более

12

Диапазон амплитуд входного сигнала:
при вх. сопротивлении 50 Ом
при вх. сопротивлении 1 МОм


от 100 мВ до 10 В
от 500 мВ до 50 В

Разрешение, бит

12

Измерительный канал 7

Диапазон входных сигналов, дБм

от минус 24 до + 30

Входное сопротивление, Ом

50

Пределы допускаемой погрешности измерения, дБ, (относительно диапазона 12 дБм)

±0,03

Внутренняя тактовая частота, МГц

20;20,48

Каналы воспроизведения силы и напряжения постоянного тока 1 и 2

Максимальная выходная мощность, Вт, не менее

30

Диапазон воспроизводимого выходного напряжения, В:
при токе от 0 до 0,8 А
при токе от 0 до 0,5 А


от 0 до 35
от 0 до 60

Амплитуда пульсации выходного напряжения, мВ, не более
Среднеквадратичное значение шума, мВ, не более

8
1

Пределы допускаемой погрешности при изменении выходного тока от 0 % до 100 %, мА

±0,33

Амплитуда пульсации выходного тока мА, не более
Среднеквадратичное значение шума, мА, не более

4
1,5

 

Полученные и планируемые результаты.

На данный момент разрабатываются PSPICE-модели радиоэлементов в САПР OrCAD, изучаются принципы тестирования отдельных компонентов.

Рис. 8 - Структура поста онтроля
Рис. 8 – Планируемая структура поста контроля

 

Планируемыми результатами работы являются:

  • построение принципиальной схемы ТЭЗ и моделей элементов в САПР OrCAD;

  • разработка тестов для исследуемого класса схем;

  • разработка структуры тестового комплекса;

  • разработка VHDL-модели проектируемой системы.

Выводы.

Рассмотренная информация по теме позволяет сделать следующий вывод: системы диагностики и тестирования аналоговых и аналогово-цифровых схем так же необходимы, как и системы диагностики цифровых узлов. Актуальной эта тема является ещё и потому, что в нашей стране существует огромный парк устаревшей техники, требующей ремонта, и возможно переноса на новую платформу аналоговых микросхем с программируемой структурой. Дальнейшие разработки этой темы могут быть направлены на совершенствование характеристик и возможностей системы диагностики. Результаты работы могут быть использованы в учебном процессе в курсе микроэлектроники.

Список литературы.

  • О.М. Петраков. Создание аналоговых PSPICE-моделей радио элементов. - М.: ИП РадиоСофт, 2004. - 208 с.

  • Miron Abramovich. Digital system testing and testable design. / New Jersey, US 1990 р , 649c.

  • Статья «Внутрисхемный контроль жив и будет жить», журнал „ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес”, выпуск 5/2001.

  • Основы технической диагностики. Кн. 1. Модели объектов, методы и алгоритмы диагноза / Под ред. П.П. Пархоменко. - М.: Энергия,1986. - 464 с.

  • Суворова Е.А., Шейнин Ю.Е., Проектирование цифровых систем на VHDL. – СПб.: БХВ-Петербург, 2003. – 576 с.

  • Грушвицкий Р.И., Мурсаеев А.Х., Угрюмов Е.П. Проектирование систем на микросхемах программируемой логики. – СПб.: БХВ-Петербург , 2002. - 608с.

  • Зинченко Ю.Е. Синтез оптимальных структур асинхронных сигнатурных анализаторов. Сборник трудов Донецкого государственного технического университета. Серия: Информатика, кибернетика и вычислительная техника, выпуск 6. - Донецк: ДонГТУ, 1999.- С. 186-191.

  • Зинченко Ю.Е., Козинец А.М., Жилин К.Н. Проблемы зондового поиска неисправностей и пути их решения. Сборник трудов Донецкого государственного технического университета. Серия: Информатика, кибернетика и вычислительная техника, выпуск 6. - Донецк: ДонГТУ, 1999.- С. 212--217.

 

des_jawa© 2007 All right reserved