>> Автобиография >> Автореферат > > Отчёт о поиске >> Индив. задание
Язык оформления:  
>> ДонНТУ

>> Портал магистров ДонНТУ

>> Библиотека

>> Ссылки

>> Главная
Автореферат

Тема магистерской работы: "Исследование эффективности генерации тестов аналого-цифровых ТЭЗ специализированного радиотехнического комплекса".

Руководитель: доц. Зинченко Ю.Е.

Автореферат составил: Маринец Е.Н.

Введение и обоснование актуальности темы

В это время практически не существует систем, которые обеспечивают подобно цифровому тестированию автоматическое построение тестов для аналоговых и аналогово-цифровых (АЦ) устройств по их структурному или функциональному описанию. Существующие системы призваны только помогать диагносту высокой квалификации, так что тесты строятся практически вручную исходя из глубоких знаний диагноста об структуре и функциях объекта диагностики (ОД). Существующие проблемы:

  • тесты, построенные вручную, неэфективны для промышленного тестирования АЦ-устройств на доступном тестовом оборудовании;
  • для адаптации к новому оборудованию их приходится строить заново, и снова вручную..

Традиционный подход построения тестов для АЦ-устройств базируется на функциональном тестировании на основе спецификаций ОД. При этом обычно диагност допускает, что в процессе диагностики будет доступна различная контрольно-диагностическая аппаратура (КДА). Большое количество спецификаций, большая ценность КДА и требование высокой квалификации, предложенные к персоналу, а также процесс диагностирования, соединенный с большим количеством операций вручную, приводят к низкой степени автоматизации и в конечном счете к высокой стоимости традиционного подхода. Повышение сложности современных АЦ-устройств, вызвано повышением степени интеграции АЦ-ИС со сложностью взаимодействия их аналоговых и цифровых узлов рядом с уменьшением соотношения этой сложности к общему числу выводов АЦ-ИС, существенно увеличивает эту проблему и принуждает ученых и практиков-диагностов искать новые подходы тестирования АЦ-устройств.



Цель и задачи работы

Цель даной работы - исследование возможности построения эффективной генерации тестов различными методами,которые обеспечат эффективную работу автоматизованной системы диагностирования, разработка улучшенного ПО для генерации тестов, разработка методики для исследования генерации тестов для выбранных неисправностей.
Для достижения поставленной цели в данной работе используется анализ проблем в области аналогового тестирования, проводятся исследования традиционного и современного подходов тестирования АЦ-устройств, приводится описание принципов работы различных методов генерации.

На основании проведенных исследований дальше делается выбор направления, разрабатывается методика и формулируются требования к проектируемому ПО.



Планируемая практическая ценность

Так как в конце 90-х годов был сильный прогресс в использовании цифровых схем, то решение проблемы диагностики и тестирования аналоговых схем было приостановлено, однако в последнее время намечается сильное развитие аналогово-цифровых схем и данная проблема становится очень актуальной, а ее решение даст сильное теоретическое обоснования для улучшения базы АЦ-устройств и их контроля предприятиями как их производящими, так и их использующими.

Вверх

Обзор существующих исследований и разработок по теме магистерской работы

Для аналоговых схем нужна автоматическая генерация тестовых последовательностей (АГТП), чтобы освободить проектировщика аналоговых схем от лишнего ручного повторного проектирования тестовых последовательностей. Также автоматический метод помогает избегнуть создания лишних тестов для аналоговых неисправностей, которые уже покрыты.

Существуют следующие методы АГТП:

  • метод на основе чувствительности;
  • метод на основе сигнального ориентированного графа.


АГТП на базе анализа чувствительности

Чувствительность является зависимостью между элементами схемы и исходными параметрами. Этим методом были найденны тесты для моделей кратных и одиночных катастрофических и параметрических неисправностей. Для минимизации времени тестирования, используя симплексный метод, находятся параметры схемы, которые необходимы, что дает максимальное покрытие аналоговых неисправностей. Также задается точность, с которой следует измерять исходные параметры.


АГТП с использованием сигнального ориентированного графа

В данном методе генерируются тесты, которые проверяют, какие значения компонентов или коэффициенты значений компонентов не отвечают спецификации. Этот метод сокращает время тестирования схемы путем сокращения количества измерений.
Аналоговые и аналого-цифровые схемы делятся за следующими характеристиками.

  • Линейный блок первого порядка. Проецируется с использованием сигнального ориентированного графа (СОГ). Такие блоки каскадируют для реализации передающей функции второго порядка.
  • Аналоговая часть подключена к входам микросхемы и подает сигналы на цифровой блок после АЦ-преобразования. Цифровая часть может иметь, а может и не иметь, независимые первичные входы.
  • Аналоговая часть наблюдается только на цифровых или аналоговых выходах. Этот важный класс схем используется в фильтрации или усилении.

Блоки схемы могут каскадироваться для получения необходимой передающей функции, и их легко проецировать с использованием СОГ. К сожалению, интеграция аналоговых и цифровых схем снижает управляемость


Функциональное тестирование с использованием DSP


В данное время практически все аналоговые схемы тестируются с использованием автоматизированных систем диагностики (АСД), построенных на базе DSP. Данные АСД вместо использования реальных аналоговых измерительных инструментов, выполняют их эмуляцию на основе быстрого преобразования Фурье (БПФ) и дискретного преобразования Фурье (ДПФ), для того, чтобы уменьшить ошибку измерения и отстранить нежелательное время установления сигнала при тестировании.
На рисунке 1 представленная традиционная аналоговая АСД. Следует обратить внимание, что она не имеет средств синхронизации между блоками генерации действий и анализа реакций.


Рисунок 1 - Традиционная аналоговая АСД


На рисунке 2 представленная АСД на базе DSP, которая имеет соответствующую синхронизацию, и состоит из АЦП, ЦАП, памяти для хранения действий и реакций, DSP, который управляется программно.


Рисунок 2 - Аналоговая АСД на базе DSP


На рисунке 3 изображенный процесс синтеза аналогового сигнала, а на рисунке 4 процесса оцифровывания.


Рисунок 3 - Синтез аналогового сигнала 4 кадра, длительность периода на 4 кадра - 4 секунды, размер составляет 43 кб
Рисунок 4 - Оцифровывание аналогового сигнала


Преимущества АСД на базе DSP заключаются в следующем.

  • Точность. АСД на базе DSP практически всегда владеют большой точностью, чем аналоговые инструменты, поскольку ошибка в наборе выборок сигнала значительно меньше после цифровой обработки, чем ошибка индивидуальной выборки. Наведение, шум и отклонения сигналов значительно сокращаются в DSP тестерах, поскольку аналоговый сигнал оцифровывается на самой ранней стадии. Старение компонентов тестера и температурные эффекты вызывают значительно меньше проблем, поскольку цифровые компоненты лучше сохраняют свои характеристики, чем аналоговые.
  • Скорость. DSP тестер может получить набор выборок от ОД за один период выборки, а дальше используя ДПФ и БПФ выполнить над ним различные измерения путем эмуляции инструментов. Для выполнения кратных измерений DSP тестер значительно ефективнее, чем аналоговый, которому надо выполнять кратные измерения. Также в DSP тестере отсутствуют временные затраты на установление сигнала в фильтре, которые присутствуют в аналоговом тестере.
  • Простота использования. Поскольку тестер цифровой, то легко повторять тестирование, выполнять настройку и сохранять выполненные настройки.
  • Больше измерительной информации. DSP тестер предоставляет дополнительную информацию вместе с измеренным параметром, например, пиковый детектор сообщает не только о значении пика, но и о расположении пика во времени.
  • Размер и мощность. АСД общего назначения на базе DSP меньше, дешевле и требует меньшей мощности, чем соответствующая аналоговая АСД.


Тем не менее АСД на базе DSP имеют также и недостатки:

  • 1. Они дорогие, хотя цена снижается благодаря использованию СБИС. Разрядность, необходимая для достижения приемлемой точности, и требования по полосе пропуска делают DSP дорогими.
  • 2. Когда необходимо выполнять только одно измерение, чисто аналоговые тестеры дешевле. DSP владеют преимуществом только при кратных измерениях.
  • 3. Гибкость инструментария является проблемой для неопытного оператора, поскольку необходимо знать теорию их использования
  • 4. Специалист по тестированию должен знать физические и математические принципы, которые лежат за каждым тестом и источником ошибок.


Метод справочника неисправностей

Обычный подход к автоматической проверке цифровых схем заключается в сравнении исходных сигналов неисправных схем с занесенными в память значениями исходных сигналов с помощью автоматического испытательного оборудования. Аналогичные методы разработаны для выявления места неисправностей в аналоговых схемах. Данные методы основаны на технике распознавания образов.
Первый шаг на пути составления справочника (справочной таблицы) состоит в формировании таких определений неисправностей, которые охватывают наиболее возможные их типы. Упомянутый аспект чрезвычайно важен для всего подхода, поскольку со временем могут быть идентифицированны только эти типы неисправностей. Следует учесть большое число потенциально возможных типов неисправностей. Естественно, что от этого числа будут зависеть размеры справочника, который накладывает ограничения на применимость метода.
Потом проводится моделирование цепи (ПЦ), что проверяется, для каждого из гипотетических случаев неисправности, которая разрешает сформировать справочные перечни входных действий и исходных реакций, на основе которых будут находиться и локализироваться неисправности. Характеристики исходных реакций (сигнатуры) помещают в справочник с целью дальнейшего использования их для оперативной идентификации неисправностей. Чтобы обеспечить накопление минимального объема данных, разрешая достичь желательной степени выявления и локализации, необходимо провести оптимальный выбор входных действий, исходных реакций и сигнатур. В процессе проверки неисправная ПЦ подвергается действию того же входного сигнала, который был использован при составлении справочника. Полученные сигнатуры сравниваются с сигнатурами, записанными в справочник. Для отождествления неисправности ПЦ с одним из записанных в справочник видов неисправностей или для ее идентификации на множестве неоднозначно определенных возможных неисправностей вводится критерий локализации неисправностей.

К Недостаткам можно отнести следующее:

  • применимость метода только для небольших схем, из-за большого числа возможных неисправностей;
  • сложность добавления новой неисправности в справочник.


Преимущество - простота использования.


Детерминированное и случайное (псевдослучайное) тестирование АЦ-устройств

Как и при цифровом тестировании для аналогового тестирования могут использоваться как детерминированные, так и случайные или псевдослучайные тестовые последовательности и тогда тестирование называется детерминированным или случайным (псевдослучайным).
При детерминированном тестировании тесты строятся специальным образом (синтезируются) для заданного списка неисправностей по структуре и/или функции АЦ-ОД, например, как в известном D-алгоритме для цифрового тестирования. Тесты вектора, создавая суммарный тест, синтезируются целеустремленно для отдельных неисправностей.
При случайном (псевдослучайном) методе тесты не синтезируются, а генерируются соответствующим генератором случайным или близким к нему образом, а потом их качество (что обнаруживает способность, полнота), оценивается путем моделирования всего списка неисправностей на построенном тесте. Хотя случайная (псевдослучайная) последовательность не всегда имеет более всего возможное тестовое покрытие, она имеет преимущества перед детерминированным тестом по следующим причинам.

  • Для разумной границы покрытия последовательность строится максимально быстро.
  • Можно аппаратно легко сгенерировать тестовые последовательности.
  • Могут эффективно протестованы различные неисправности, которые не рассматриваются привычной концепцией тестирования.
  • Наиболее низкая стоимость проектирования диагностических средств.
Вверх

Описание полученных и планируемых результатов


В качестве объекта исследования были спроектированы в САПР OrCAD реальные отечественные микросхемы, часть одной из них представлена на рисунке 5. Все элементы этого отрывка являются отечественными, и имеют все характеристики реальных элементов.


Рисунок 5. Отрывок из отечественной микросхемы ,моделируемой в САПР OrCAD


Дальше приведены обозначения элементов и их реальные отечественные прототипы:
резисторы:


R75 (5.1k) - МТЕ-0.25-5.1ком±10%;
R78, R79, R84, R85, R87, R88 (0.1k) - МТЕ-0.25-100ом±10%;
R76 (0.15k) - МТЕ-0.25-150ом±10%;
R77 (0.075k) - МТЕ-0.25-75ом±10%;
R82 (0.82k) - МТЕ-0.25-820ом±10%;
R83 (0.43k) - МТЕ-0.25-430ом±10%;
R86 (0.22k) - МТЕ-0.25-220ом±10%;
R90 (0.11k) - МТЕ-0.25-110ом±10%;
R100 (1.2k) - МТЕ-0.25-1.2ком±10%;


конденсаторы:


С58(0.022мк) - К 23-Н30-0.022мкф±20%;
С55(47u) - К 23-М47-47пф±5%;
C56(0.022mk) - К 23-Н30-0.022мкф±20%;


транзисторы: ПП15,ПП16-2Т312А;
трансформатор: ТВ2 - ТВ1;

Собрав и образовав реально-существующую, или спроектированную схему в САПР OrCad мы можем промоделировать любые процессы этой схемы, или найти и сделать анализ возможных неисправностей реальной схемы. В дальнейшем на этих схемах будет анализироваться различные методы, выбран самый оптимальный и еще больше оптимизирован для работы в разработанном ПО генерации тестов.

Вверх

Выводы и заключения

В это время практически отсутствуют методы структурного синтеза тестов для аналого-цифровых устройств и основные работы в этом направлении, как и в случае цифрового тестирования, ориентируют диагностов, прежде всего, на использование случайных и псевдослучайных аналоговых последовательностей в соединении со стандартными типами сигналов, такими как синусоида, пила и т.д.. Поэтому на первом этапе создания АСД следует реализовать именно этот подход к генерации тестов.

САПР ORCAD и реализованный в нем язык описания АЦ-устройств PSpice отвечают всем соответствующим требованиям и потому эта САПР может быть использованная в качестве инструментальной САПР АСД.

Разработка ПО генерации и анализа тестов это составная часть для разработки базовой версии АСД, сделав анализ всего комплекса АЦ-ТЕЗ.



Литература

1. Давыдов П.С. Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем. - Г.: Радио и связь, 1988. - 256 с.
2. Agrawal V.D, Bushnell M. L. Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits . - Boston: Kluwer Academic Publishers, - 2000, 650 p
3. Bapiraju Vinnakota. Analog and mixed-signal test. - Prentice Hall PTR, 1998. - 261p.
4. Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua and Satyabroto Sinha “Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits”, Springer, 2005.

Автобиография | Автореферат | Библиотека | Ссылки | Отчёт о поиске | Индивид. задание | Главная
ДонНТУ | Портал магистров ДонНТУ