|   | 
 Автореферат на магистерскую работу по теме «Разработка и исследование структуры поста контроля для тестирования аналогово-цифровых ТЭЗ на основе цифровой обработки сигналов».  
   
План работы. 
 
  - 
    
Введение. 
   
  
  - 
    
Обзор проблематики темы 
   
  
  - 
    
Заключение. 
   
  
  
Введение.  
Современный мир просто немыслим без техники. Она настолько прочно вошла в нашу жизнь, что мы порой даже не замечаем, как часто имеем дело с ней. С развитием цифровых технологий связан новый этап эволюции техники: она становится всё компактнее, быстрее, умнее. Цифровые схемы прочно вошли в нашу жизнь и заняли позицию надежного и верного помощника. Однако, наряду с цифровыми, существовали и будут существовать аналоговые и аналогово-цифровые схемы. Они представляют собой механизмы сопряжения цифровых схем с окружающей средой. В чистом виде аналоговые схемы могут встречаться в источниках питания, различных генераторах и т.д. Как и любые схемы имеют тенденцию выходить из строя, так и исследуемый класс аналоговых и аналогово-цифровых схем, разработанных уже с десяток лет назад, тоже часто содержит неисправности.  
Актуальность темы. 
Борьбу за устранение дефектов и поломок в исследуемых схемах ведут автоматизированные системы диагностики. Количество таких систем постоянно растёт. Наиболее известными производителями таких систем являются Teradyne, Agilent, World Test Systems, DMT и другие.Важно заметить, что систем диагностики цифровых схем на рынке оборудования существует огромное количество. Системы же тестирования аналоговых схем представлены не так широко.Современная система диагностики должна решать следующие задачи: 
  - 
    
проверка исправности аналогового блока; 
   
  - 
    
измерение параметров исследуемой схемы (входных, выходных, передаточных характеристик); 
   
  - 
    
поиск и локализация неисправности в схеме. 
   
 
По аналогии с цифровыми схемами здесь должна применяется технология «зондовой диагностики». Однако, в отличие от цифровых схем, необходимость генерации тестовых реакций и прослеживания их в контрольных точках не является всеобъемлющим подходом. Для диагностики аналоговой части схемы необходимо наличие универсального генератора аналоговых сигналов с различной амплитудой, частотой, формой импульса и т.д. Кроме того, диагностический комплекс должен обладать мощными средствами для измерения и визуализации полученных на выходах схемы реакций. Всеми этими качествами обладает современная ЭВМ.   
Цели и задачи работы.  
Целью данной работы является разработка структуры универсальной системы диагностики аналоговых и аналогово-цифровых схем.В состав универсальной системы диагностики входят: 
  - 
    
устройство зондирования; 
   
  - 
    
устройство выдачи и сбора зондовой информации; 
   
  - 
    
программное обеспечение ЭВМ; 
   
  - 
    
устройства преобразования АЦП и ЦАП. 
   
 
Устройство зондирования должно обеспечивать возможность подачи аналогового сигнала на входы устройства и снятия реакция с его выходов, а также контрольных точек.Устройство выдачи и сбора зондовой информации должно выполнять следующие функции: 
  - 
    
выдача тестовых сигналов на объект диагностирования; 
   
  - 
    
сбор тестовых реакций на выходах объекта или в его контрольных точках; 
   
  - 
    
построение входных, выходных и передаточных характеристик объекта диагностики; 
   
  - 
    
обмен информацией с ЭВМ. 
   
 
Устройства преобразования ЦАП и АЦП должны обеспечивать преобразование выдаваемых ЭВМ сигналов в аналоговые и оцифровку данных, собранных с объекта.Программное обеспечение ЭВМ должно выполнять функции: 
  - 
    
генерация и выдача на объект тестовых сигналов; 
   
  - 
    
управление перестановками зонда; 
   
  - 
    
анализ реакций, полученных в точках тестирования; 
   
  - 
    
определение неисправности. 
   
 
 Предполагаемая научная новизна и планируемая практическая ценность. 
Научная новизна данной работы заключается в попытке применения технологии синтеза тестов и анализа тестовых реакций для тестирования аналоговых и аналогово-цифровых схем. Такой подход создаст возможность рассмотрения схем, созданных по смешанной технологии, как единого целого. Тестовый комплекс с разрабатываемой структурой должен обладать такими качествами как компактность, универсальность, точность и скорость определения неисправности.Планируемая практическая ценность работы заключается в возможности применения данной технологии для диагностирования и ремонта электронных самого различного назначения.   
Локальный обзор по теме. 
Тема диагностики цифровых схем довольно широко раскрыта в статье «Проблемы зондового поиска неисправностей и пути их разрешения» (Зинченко Ю.Е., Козинец А.М., Жилин К. Н.). Данная работа посвящена анализу классических проблем задачи зондовой диагностики электронных схем:  минимизации перестановок зонда , локализации неисправности с точностью до съемной компоненты и проблему минимизации внешней памяти системы ЗД . Несмотря на то что эти задачи стали уже классическими ученые-диагносты по прежнему ведут исследования в этом направлении. Статья «Синтез оптимальных структур сигнатурных анализаторов» (Зинченко Ю.Е.) посвящена проблемам разработки структур сигнатурных анализаторов тестовых реакций. Рассматриваются проблемы максимально возможного сжатия тестовых реакций, компенсации ошибок.Статья « FPGA- и HDL-технологии и проектирование диагностического обеспечения на их основе» (Зинченко Ю., Тарасенко А., Маркитантов В., Прокопченко В., Мирошников А., Рытов А.) посвящена проблеме разработки диагностического оборудования на базе FPGA- и HDL-технологий, основанных на использовании БИС с перестраиваемой архитектурой типа FPGA и CPLD и языков программирования аппаратуры, таких как VHDL и VERILOG.Кроме того, данная тема освящена работой магистра ДонНТУ Бобровкиого К.В на тему «Разработка структуры поста контроля зондовой диагностики ТЭЗ на базе HDL- и FPGA-технологий». В данной работе рассматриваются существующие системы зондовой диагностики цифровых схем, а также разработана структура поста контроля для диагностики цифровых ТЭЗ.   
Обзор существующих систем диагностики.  
Система Javelin 1004 с роботизированными зондами фирмы Teradyne. 
Система автоматизированной диагностики для плат с поверхностным монтажом (рисунок 1). Использует четыре управляемых зонда одной длины. Независимое движение зондов происходит в одной плоскости, что повышает точность их позиционирования и воспроизводимость результатов. Автоматический конвейер оптимизирует передвижение печатного узла (ПУ) через тестер. Время измерения – меньше 50 мс на один этап теста.  
Рис. 1 – Система Javelin 1004 
 
  
Javelin 1004 удовлетворяет условиям мелкосерийного производства и производства крупных ПУ. Быстрая адаптация к новым условиям контроля и новой конфигурации ПП составляет одно из наиболее важных свойств системы. Малое время программирования, гибкость и простота установки делают ее подходящим прибором для контроля опытных образцов. Модули так называемого безвекторного контроля (рис. 2) расширяют покрытие неисправностей для любой ИС, в том числе с BGA и теплоотводами, а также соединителей. Система технического зрения с видеокамерой автоматически проверяет присутствие и ориентацию ИС.  
Рис. 2 – Безвекторный контроль   
  
Система внутрисхемного контроля TestStation 12X фирмы GenRad 
Усовершенствованная система семейства TestStation (рис. 3) Выполняет все функции контроля ПУ семейства:  
  - 
    
определение разрывов и коротких замыканий;  
   
  - 
    
безвекторный контроль;  
   
  - 
    
контроль дискретных аналоговых компонентов;  
   
  - 
    
цифровой векторный контроль;  
   
  - 
    
периферийное сканирование при сокращенном доступе;  
   
  - 
    
контроль компонентов со смешанными сигналами;  
   
  - 
    
функциональный контроль в современных производственных условиях.  
   
 
Рис. 3 – Система TestStation 12X
 
  
Аналоговая и цифровая подсистемы синхронизированы. Аналоговая подсистема обеспечивает измерение напряжения от 0 до +200 В, тока от 0 до +160 мА, содержит модуль с программируемой частотой от 15 Гц до 100 кГц, высоковольтный источник питания. Цифровая подсистема характеризуется 26 программируемыми запускающими уровнями от +5,5 до -2,5 В, автоматической верификацией управления на каждом контакте. 
 Таблица 1 – Технические характеристики системы TestStation 12X  
  
    Параметр   | 
    Значение   | 
   
  
    Зонды   | 
    четыре наверху, стационарный зонд под ПУ   | 
   
  
    Скорость измерения   | 
    до 20 тестов в секунду   | 
   
  
    Минимальное разрешение позиционирования   | 
    10 мкм   | 
   
  
    Повторяемость позиционирования   | 
    ±10 мкм   | 
   
  
    Минимальный шаг зонда   | 
     0,2 мм  | 
   
  
    Ход зонда   | 
    6–30 мм в зависимости от программы   | 
   
  
    Диапазон измерений:   | 
   
  
    резисторов   | 
    4 Ом–40 МОм, 10 мОм–100 Ом   | 
   
  
    конденсаторов   | 
    10 пФ–400 мФ   | 
   
  
    катушек индуктивности   | 
    10 мкГн–400 Гн   | 
   
  
    коротких замыканий/разрывов   | 
    5 Ом–4 МОм   | 
   
  
    Максимальные размеры контролируемой ПП   | 
    600х510 мм   | 
   
  
    Толщина платы   | 
    0,8–3,2 мм   | 
   
  
    Высота компонента:   | 
   
  
    на верхней стороне ПП   | 
     30 мм  | 
   
  
    на нижней стороне ПП   | 
     100 мм  | 
   
  
    Электропитание   | 
    200–240 В переменного тока   | 
   
  
    Габариты   | 
    1690х1430х1670 мм   | 
   
  
    Масса   | 
     1100 кг  | 
   
  
    Зонды   | 
    четыре наверху, стационарный зонд под ПУ   | 
   
  
  
Зондовая система Pilot LX фирмы GenRad 
Система производственного контроля (рис. 4) предназначена для гибкого, полного и экономически эффективного тестирования крупных ПУ с ограниченным доступом малых серий, а также опытных образцов. Содержит четыре управляемых зонда для верхней стороны ПУ и шесть фиксированных зондов для нижней стороны. Подсистема технического зрения имеет две камеры, одна из которых проводит оптический контроль и оцифровку ПП, а вторая используется во время разработки теста, наладки и производства.  
 Рис. 4 – Cистема Pilot LX
  
 
Система способна:  
 
Таблица 2 – Технические характеристики системы Pilot LX  
  
    Параметр   | 
    Значение   | 
   
  
    Разрешение позиционирования зондов по X и Y   | 
    2,5 мкм   | 
   
  
    Максимальные размеры контролируемой ПП   | 
    610х610 мм   | 
   
  
    Максимальная толщина контролируемой ПП   | 
     5 мм  | 
   
  
    Максимальная высота компонентов:   | 
   
  
    на верхней стороне ПП   | 
     44 мм  | 
   
  
    на нижней стороне ПП   | 
     100 мм  | 
   
  
    Измеряемое напряжение постоянного тока   | 
    ±50 В   | 
   
  
    Диапазон измерения:  | 
   
  
    резисторов   | 
    0,1 Ом–200 МОм   | 
   
  
    конденсаторов   | 
    10 пФ–1000мкФ   | 
   
  
    катушек индуктивности   | 
    10 мкГн–1 Гн   | 
   
  
    частоты   | 
    до 1 МГц   | 
   
  
    Габариты системы   | 
    1700х1680х1240 мм   | 
   
  
    Масса   | 
     1577 кг  | 
   
  
    Электропитание   | 
     ~110/220 В (2500 Вт)   | 
   
  
   
Зондовая система AutoPoint II фирмы DiagnoSYS Systems 
Система AutoPoint II (Рис. 5) может сопрягаться с широким спектром контрольно-измерительных приборов. Варианты системы используют один или два управляемых зонда и максимальное число (16) опорных зондов. Система представляет идеальное решение для отбраковки и контроля ПУ малых серий. 
Рис. 5 – Cистема AutoPoint II
 
  
Программные средства сигнатурного анализа Interv3 позволяют проводить анализ на незапитанном ПУ, что обеспечивает неразрушающий контроль любого компонента на ПП.   
Таблица 3 – технические характеристики AutoPoint II  
  
    Параметр   | 
    Значение   | 
   
  
    Число управляемых зондов   | 
    1   | 
   
  
    Скорость перемещения зонда   | 
    25 мм/с   | 
   
  
    Разрешающая способность   | 
    1 мкм   | 
   
  
    Точность позиционирования   | 
    ±25 мкм   | 
   
  
    Максимальные размеры контролируемой ПП   | 
    600х600 мм   | 
   
  
    Максимальная высота контролируемого ПУ   | 
     100 мм  | 
   
  
    Потребляемая мощность системы   | 
    500 Вт   | 
   
  
  
 Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д» производства ООО «Трейлер» 
Рис. 6 – Система диагностики «ТЕСТ-Д»
 
  
Система предназначена для диагностики и ремонта промышленных электронных устройств (рис. 6). Комплекс приборов, входящих в состав системы, реализует методы:  
  - 
    
функционального тестирования;  
   
  - 
    
сигнатурного тестирования;  
   
  - 
    
внутрисхемного тестирования.  
   
  
Таблица 4 – технические характеристики системы «ТЕСТ-Д»  
  
    Параметр   | 
    Значение   | 
   
  
    Число каналов канала ввода-вывода   | 
    190 (95)   | 
   
  
    Уровни сигналов   | 
    ТТЛ, КМОП   | 
   
  
    Максимальный уровень логической единицы   | 
    15V   | 
   
  
    Максимальный уровень логического нуля:    | 
   
  
         в режиме вывода   | 
    0,4V   | 
   
  
         в режиме ввода   | 
    0,8V   | 
   
  
    Максимальный ток при уровне логического нуля:   | 
   
  
         в режиме вывода  | 
    40 mA.   | 
   
  
         в режиме ввода  | 
    0,8 mA.   | 
   
  
    Зонд логический (IN-зонд):   | 
   
  
         уровень логической единицы   | 
    от 2,0 V до 15 V   | 
   
  
         уровень логического нуля   | 
    от -15 V до 1,0 V   | 
   
  
    Входное сопротивление   | 
    20 кОм   | 
   
  
    Зонд генератор (OUT-зонд):   | 
   
  
         уровень логической единицы не менее   | 
    2,4 V   | 
   
  
         уровень логического нуля не более   | 
    0,8 V   | 
   
  
    Максимальный выходной ток   | 
    200 мА   | 
   
   
  
Комплекс измерительный параметров микросхем и устройств ДМТ–119/1 
Рис. 7 – Измерительный комплекс ДМТ-119/1. 
 
  
Комплекс ДМТ–119/1 представляет собой сложный программно–аппаратный комплекс, объединяющий в своем составе четыре аналоговых и шестнадцать цифровых каналов измерения параметров сигналов, канал измерения сигнала в диапазоне частот от 100 Гц до 3 ГГц, четыре канала источников питания постоянного тока и канал генерирования синусоидальных сигналов в диапазоне частот от 250 кГц до 3 ГГц.Комплекс ДМТ–119/1 предназначен для расширения возможностей Комплекса ДМТ–119 и работы с ним под управлением одной управляющей ПЭВМ. Конструктивно комплекс выполнен в виде шкафа с установленными в него отдельными приборами, объединенных с помощью шины GPIB в единый измерительный комплекс под управлением внешней управляющей ПЭВМ. 
Комплекс ДМТ–119/1 предназначен для:   
  - 
    
Воспроизведения и измерения аналоговых сигналов; 
   
  - 
    
Измерения до 16 каналов цифровых сигналов; 
   
  - 
    
Подачи аналоговых сигналов на измеряемую ИМС или измеряемое устройство; 
   
  - 
    
Измерения отклика измеряемой ИМС или измеряемого устройства на поданный сигнал; 
   
  - 
    
Измерения параметров АЦП и ИМС смешанных сигналов (до 16 цифровых и 2 аналоговых). 
   
  - 
    
Измерения спектральных и шумовых параметров измеряемых ИМС и устройств; 
   
  - 
    
Автоматизированного построения АЧХ измеряемых ИМС и устройств; 
   
  - 
    
Воспроизведение и измерение постоянного напряжения/тока для питания измеряемых ИМС и устройств; 
   
  - 
    
Совместной работы с Комплексом ДМТ–119 для измерения аналоговых ИМС и устройств со сложными формами воспроизведения и измерения сигналов; 
   
  - 
    
Совместной работы с Комплексом ДМТ–119 для увеличения каналов воспроизведения и измерения сигналов; 
   
  - 
    
Совместной работы с цифровыми тестерами при измерениях параметров ЦАП, АЦП и ИМС смешанных сигналов. 
   
 
 Основные цели и задачи при проведении входного контроля с помощью Комплекса ДМТ–119:   
  - 
    
проведение НИР и НИОКР. Возможность проведения входного контроля поступающих на предприятие аналоговых ИМС; 
   
  - 
    
анализ поведения аналоговых ИМС при имитационных испытаниях; 
   
  - 
    
создание базы по методологии выявления неисправностей, для предотвращения отказов; 
   
  - 
    
приведение методологии измерений и испытаний в соответствие с современными требованиями; 
   
 
 Экономический эффект проведения входного контроля   
  - 
    
уменьшение вероятности отказов 
   
  - 
    
покупка аналоговых ИМС для обыкновенных применений и продажа уже как комплектации для специального применения или покупка кристаллов и корпусирование их на своем производстве 
   
  - 
    
импортозамещение в области услуг такого рода. Расходы на эти цели очень значительны. 
   
  
   Таблица 5 – Технические характеристики комплекса ДМТ–119:  
 
  
     Каналы воспроизведения сигналов произвольной формы 1 и 2   | 
   
  
     Частота дискретизации сигнала   | 
     200 Мвыб./с   | 
   
  
     Количество точек в форме выходного сигнала   | 
     от 64 до 4050000   | 
   
  
     Выходное сопротивление   | 
     50 Ом   | 
   
  
     Диапазон амплитуд выходного сигнала   | 
     от 20 мВ до 5 В   | 
   
  
     Диапазон постоянного напряжения смещения в выходном сигнале   | 
     от минус 2,5 В до 2,5В   | 
   
  
     Каналы воспроизведения сигналов специальной формы 3 и 4   | 
   
  
     Частота воспроизводимых колебаний   | 
     от 0,001 Гц до 200 кГц   | 
   
  
     Пределы допускаемой относительной погрешности установки частоты   | 
     ±(0,0025 % + 4 мГц)   | 
   
  
     Диапазон амплитуд выходного сигнала (однополярный выход): 
        нагрузка 50 Ом 
        нагрузка 600 Ом 
        высокоомная нагрузка   | 
     
        от 5 мкВ до 14,4 В 
        от 5 мкВ до 20,0 В 
        от 10 мкВ до 40,0 В 
  | 
   
  
     Балансн. выход: 
        нагрузка 50 Ом 
        нагрузка 600 Ом 
        высокоомная нагрузка   | 
     
        от 10 мкВ до 28,8 В 
        от 10 мкВ до 40,0 В 
        от 20 мкВ до 80,0 В 
  | 
   
  
     Разрешение установки амплитуды сигнала, мкВ   | 
     1   | 
   
  
     Пределы допускаемой относительной погрешности установки амплитуды, %   | 
     ±1   | 
   
  
     Спектр шумоподобного сигнала, кГц   | 
     200   | 
   
  
     Измерительные каналы 1 и 2   | 
   
  
     Максимальная частота дискретизации для однократных сигналов, ГГц   | 
     4 (для одного канала)   | 
   
  
     Вертикальный канал   | 
   
  
     Полоса пропускания для повторяющихся сигналов (на уровне минус 3 дБ), МГц   | 
     от 0 до 500 МГц   | 
   
  
     Максимальное входное напряжение, В   | 
     300В ср,кв; 400В пик   | 
   
  
     Входное сопротивление   | 
     1 МОм, 50 Ом   | 
   
  
     Входная емкость, пФ, не более   | 
     13   | 
   
  
     Горизонтальный канал   | 
   
  
     Коэффициенты развертки   | 
     от 1 нс/дел до 50 с/дел   | 
   
  
     Разрешение, пс   | 
     2,5   | 
   
  
     Измерительные каналы 3, 4, 5, 6   | 
   
  
     Полоса пропускания аналогового сигнала (на уровне 3 дБ), МГц   | 
     от 0 до 90   | 
   
  
     Входное сопротивление   | 
     50 Ом или 1 МОм   | 
   
  
     Входная емкость, пФ, не более   | 
     12   | 
   
  
     Диапазон амплитуд входного сигнала: 
        при вх. сопротивлении 50 Ом 
        при вх. сопротивлении 1 МОм   | 
     
        от 100 мВ до 10 В 
        от 500 мВ до 50 В 
  | 
   
  
     Разрешение, бит   | 
     12   | 
   
  
     Измерительный канал 7   | 
   
  
     Диапазон входных сигналов, дБм   | 
     от минус 24 до + 30   | 
   
  
     Входное сопротивление, Ом   | 
     50   | 
   
  
     Пределы допускаемой погрешности измерения, дБ, (относительно диапазона 12 дБм)   | 
     ±0,03   | 
   
  
     Внутренняя тактовая частота, МГц   | 
     20;20,48   | 
   
  
     Каналы воспроизведения силы и напряжения постоянного тока 1 и 2   | 
   
  
     Максимальная выходная мощность, Вт, не менее   | 
     30   | 
   
  
     Диапазон воспроизводимого выходного напряжения, В: 
        при токе от 0 до 0,8 А 
        при токе от 0 до 0,5 А   | 
     
        от 0 до 35 
        от 0 до 60 
  | 
   
  
     Амплитуда пульсации выходного напряжения, мВ, не более 
        Среднеквадратичное значение шума, мВ, не более   | 
     8 
        1   | 
   
  
     Пределы допускаемой погрешности при изменении выходного тока от 0 % до 100 %, мА   | 
     ±0,33   | 
   
  
     Амплитуда пульсации выходного тока мА, не более 
        Среднеквадратичное значение шума, мА, не более   | 
     4 
        1,5   | 
   
  
    
 Полученные и планируемые результаты.  
 На данный момент разрабатываются PSPICE-модели радиоэлементов в САПР OrCAD, изучаются принципы тестирования отдельных компонентов.     
  Рис. 8 – Планируемая структура поста контроля   
     
   Планируемыми результатами работы являются:     
  
 
  - 
    
построение принципиальной схемы ТЭЗ и моделей элементов в САПР OrCAD; 
   
  - 
    
разработка тестов для исследуемого класса схем; 
   
  - 
    
разработка структуры тестового комплекса; 
   
  - 
    
разработка VHDL-модели проектируемой системы. 
   
  
 Выводы.  
 Рассмотренная информация по теме позволяет сделать следующий вывод: системы диагностики и тестирования аналоговых и аналогово-цифровых схем так же необходимы, как и системы диагностики цифровых узлов. Актуальной эта тема является ещё и потому, что в нашей стране существует огромный парк устаревшей техники, требующей ремонта, и возможно переноса на новую платформу аналоговых микросхем с программируемой структурой. Дальнейшие разработки этой темы могут быть направлены на совершенствование характеристик и возможностей системы диагностики. Результаты работы могут быть использованы в учебном процессе в курсе микроэлектроники. 
 Список литературы. 
 
  - 
    
О.М. Петраков. Создание аналоговых PSPICE-моделей радио элементов. - М.: ИП РадиоСофт, 2004. - 208 с. 
   
  - 
    
 Miron Abramovich. Digital system testing and testable design. / New Jersey, US 1990 р , 649c.  
   
  - 
    
 Статья «Внутрисхемный контроль жив и будет жить», журнал „ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес”, выпуск 5/2001. 
   
  - 
    
 Основы технической диагностики. Кн. 1. Модели объектов, методы и алгоритмы диагноза / Под ред. П.П. Пархоменко. - М.: Энергия,1986. - 464 с. 
   
  - 
    
 Суворова Е.А., Шейнин Ю.Е., Проектирование цифровых систем на VHDL. – СПб.: БХВ-Петербург, 2003. – 576 с. 
   
  - 
    
 Грушвицкий Р.И., Мурсаеев А.Х., Угрюмов Е.П. Проектирование систем на микросхемах программируемой логики. – СПб.: БХВ-Петербург , 2002. - 608с. 
   
  - 
    
Зинченко Ю.Е. Синтез оптимальных структур асинхронных сигнатурных анализаторов. Сборник трудов Донецкого государственного технического университета. Серия: Информатика, кибернетика и вычислительная техника, выпуск 6. - Донецк: ДонГТУ, 1999.- С. 186-191. 
   
  - 
    
Зинченко Ю.Е., Козинец А.М., Жилин К.Н. Проблемы зондового поиска неисправностей и пути их решения. Сборник трудов Донецкого государственного технического университета. Серия: Информатика, кибернетика и вычислительная техника, выпуск 6. - Донецк: ДонГТУ, 1999.- С. 212--217. 
   
 
   
 | 
  |