РЕЗЮМЕ АВТОБИОГРАФИЯ РЕФЕРАТ БИБЛИОТЕКА ССЫЛКИ ОТЧЕТ О ПОИСКЕ СПОРТИВНОЕ ПЛАВАНИЕ

ССЫЛКИ

    Материалы магистров ДонНТУ

  1. Разработка и исследование метода синтеза тестов для типовых элементов замены (ТЭЗ)

    Автор: Мяделец А.А.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  2. Разработка методов и средств обнаружения и устранения сбойных тестовых векторов цифровых устройств

    Автор: Лещенко С.А.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  3. Разработка методики проектирования устройств компактного тестирования с локализацией ошибок и исследование их характеристик

    Автор: Юрьев И.В.

    Руководитель: к.т.н., доц. Дяченко О.Н.

  4. Исследование эффективности генерации тестов аналого-цифровых ТЭЗ специализированного радиотехнического комплекса

    Автор: Маринец Е.Н.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  5. Решение задач прогнозирования с помощью нейронных сетей

    Автор: Акулов П.В.

    Руководитель: д.т.н., проф. Святный В.А.

  6. Разработка и исследование структуры поста контроля для тестирования аналогово-цифровых ТЄЗ на основе цифровой обработки сигналов

    Автор: Нестеренко Д.О.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  7. Разработка и исследование методов и структур аппаратного анализа аналоговых тестовых реакций на базе FPGA

    Автор: Шигимагин А.В.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  8. Разработка и исследования методов и структур аппаратного генерирования аналоговых тестов на базе FPGA

    Автор: Масякин Е.А.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  9. Разработка и исследование методов и структур аппаратной генерации тестов и анализа тестовых реакций на базе FPGA

    Автор: Блинов Ю.В.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

  10. Разработка структуры поста контроля зондовой диагностики ТЭЗ на базе HDL‑ и FPGA‑технологий

    Автор: Бобровский К.В.

    Руководитель: к.т.н., доц. Зинченко Ю.Е.

    11. Научные работы и статьи

  11. Автоматические системы регулирования на основе нейросетевых технологий

    Авторы: Сабанин В.Р., Смирнов Н.И., Репин А.И.

    Описание: В статье представлены некоторые результаты моделирования автоматических систем регулирования с нейроконтроллерами, функционирующими на основе искусственных нейросетей.

  12. Нейрокомпьютеры — архитектура и реализация. Аппаратная реализация нейровычислителей

    Авторы: Шахнов В., Власов А., Кузнецов А., Поляков Ю.

    Описание: Аппаратная реализация нейровычислителей на примерах современных плат.

  13. Использование нейронных сетей для прогнозирования деградации выходных параметров ТТЛ ИС в системе Matlab/Simulink

    Автор: Строгонов А.

    Описание: В данной статье рассматривается альтернативный метод прогнозирования деградации выходных параметров ТТЛ ИС.

  14. Аппаратная реализация нейронных сетей

    Автор: Колесников С.

    Описание: В статье рассмотрены особенности реализации аппаратного обеспечения искусственных нейронных сетей (ИНС).

  15. Диагностика аналоговых схем с учетом тепловых режимов электрорадиоэлементов

    Авторы: Воловикова Е.В., Увайсов С.У.

    Описание: Анализ методов диагностирования с точки зрения поиска дефектов в аналоговых радиоэлектронных устройствах.

  16. Применение аппарата нейронных сетей для диагностирования и прогнозирования отказов элементов и устройств СЦБ

    Автор: Гундырев К.В.

    Описание: Статья рассматривает возможности определения причин отказов устройств сигнализации при помощи нейронных сетей, а также обосновывает актуальность применения данного метода.

  17. Опыт моделирование систем силовой электроники в среде OrCAD

    Авторы: Болотовский Ю., Таназлы Г.

    Описание: В статье приводятся конкретные примеры моделирования радиоэлектронных компонентов и элементов силовой электроники в среде OrCAD с описанием целесообразности тех или иных подходов.

  18. Диагностика отказов интегральных микросхем с использованием физического ионного распыления

    Авторы: Вяткин А.Ф., Зиненко В.И.

    Описание: В статье представлен способ вскрытия интегральных микросхем с фронтальной стороны для поиска возможных дефектов. Также обсуждаются основные принципы использования, конструкция экспериментальной установки, а также приведены результаты применения в реальных условиях.

  19. Метод генерации тестов для отладки нейросетевых экспертных систем

    Авторы: Долинина О.Н., Кузьмин А.К.

    Описание: В статье приведены основные этапы жизненного цикла нейросетевых систем, анализ ошибок, возникающих в базах знаний экспертных систем; проанализированы существующие методы их отладки. Далее описан подход к решению задачи генерации исчерпывающих тестовых наборов, основанный на преобразовании структуры представления знаний экспертной системы к виду логической сети и применения к ней методов технической диагностики. Также предложен метод тестирования нейросетевых экспертных систем, основанный на распространении данного подхода на модель многослойного персептрона.

  20. Оценка надежности аналоговых интегральных схем с использованием измерений электрических параметров при внешних воздействиях

    Авторы: Горлов М.И., Смирнов Д.Ю.

    Описание: В статье рассмотрены различные методики оценки надежности аналоговых интегральных схем с использованием измерений электрических параметров при внешних воздействиях.

  21. Компактное тестирование цифровых схем с локализацией пакетов ошибок на основе укороченных кодов Файра

    Авторы: Дяченко О.Н., Волков В.Э.

    Описание: В статье рассматриваются вопросы реализации компактного тестирования с локализацией ошибок в выходной тестовой реакции проверяемой цифровой схемы.

  22. Автоматическое генерирование аналоговых тестов с использованием сигнального ориентированного графа

    Авторы: Bushnell M., Agraval V.

    Перевод: Масякин Е.А.

    Описание: В статье Рамадосс и Бушнелл предлагают структурное тестирование аналоговых схем, суть которого состоит в генерировании тестов, которые проверяют какие значения компонентов или коэффициенты значений компонентов не соответствуют спецификации. Этот метод сокращает время тестирования схемы, путем сокращения количества измерений.

  23. Fault detection and diagnosis in analog integrated circuits using artificial neural network in a pseudorandom testing scheme

    Авторы: Kabisatpathy P., Barua A., and Sinha S.

    Описание: Данная статья описывает методику диагностики аналоговых интегральных схем с использованием генератора псевдослучайного белого шума.

  24. Towards robustness in neural network bases fault diagnosis

    Авторы: Patan K., Witczak M., Korbicz J.

    Описание: Данная статья обсуждает проблемы, регулярно возникающих в современных системах диагностики ошибок, а также описывает возможные альтернативные стратегии моделирования неисправностей.

  25. On‑Line Fault Detection Techniques for Technical Systems: A Survey

    Автор: AngeliC.

    Описание: Данная статья включает описание недавних исследований в области численных методов, презентацию методов искусственного интеллекта, которые используются в процессах локализации неисправностей технических систем.

  26. Neural Network Automatic Test Pattern Generator

    Автор: Sinha P.

    Описание: Данная статья рассматривает методику моделирования генератора тестов. На примерах показано представление цифровых схем в качестве сетей Хопфилда, перечислены недостатки и преимущества такого подхода.

  27. A Built‑in Self‑Test Circuitry Based on Reconfiguration for Analog and Mixed‑Signal IC

    Автор: Mosin S.

    Описание: Данная статья предлагает методику реконфигурации в аналоговых интегральных схемах с целью принятия решения о правильности функционирования тестируемых схем.

  28. Pattern Recognition Methods Application for Analog Circuit Fault Detection

    Авторы: Dimitrios K. Konstantinou, Michael G. Dimopoulos, Dimitris K. Papakostas, Sotiris L. Stathis, George Goudelis, Alkis A. Hatzopoulos

    Описание: В данной статье представлена техника обнаружения неисправностей в аналоговых устройствах с использованием метода распознавания образов.

  29. Integrated Circuit Testing for Quality Assurance in Manufacturing: History, Current Status, and Future Trends

    Авторы: Grochowski A., Bhattacharya D., Viswanathan T., Laker K.

    Описание: В данной статье анализируются различные подходы в области тестирования интегральных схем, упоминаются исторические аспекты, а также строятся предположения на будущее.

  30. Implementation of BIST Structure using VHDL for VLSI Circuits

    Авторы: Jamuna.S, Agrawal V.

    Описание: В данной статье авторы предлагают реализацию тестера с использованием языка описания аппаратуры VHDL.

  31. A Neural‑Network‑Based Fault Diagnosis Approach for Analog Circuits by Using Wavelet Transformation and Fractal Dimension as a Preprocessor

    Авторы: Wenji Zhu, Yigang He

    Описание: Данная статья представляет новый метод диагностики неисправностей аналоговых устройств на основе нейронных сетей обратного распространения с использованием вейвлет-разложения и фрактальной размерности.

  32. Soft Fault Detection and Isolation in Analog Circuits: Some Results and a Comparison Between a Fuzzy Approach and Radial Basis Function Networks

    Авторы: Catelani M., Fort A.

    Описание: В данном документе приводится сравнение двух методов диагностики неисправностей в аналоговых электронных схемах.

  33. Fault Diagnosis &mdash Isolation of Malfunctions in Power Transformers

    Авторы: Smith J., B Venkoba Rao, Diwanji V., Kamat S.

    Описание: Статья представляет собой обзор о том, как слияние техник, построенных на использовании искусственного интеллекта, может быть использовано для диагностики силовых трансформаторов.

  34. A generalized fault diagnosis in dynamic analog circuits

    Авторы: Liu D., Starzyk J.

    Описание: В данной статье приводится новый метод множественной диагностики неисправностей линейных аналоговых устройств в частотной области.

  35. SBT Soft Fault Diagnosis in Analog Electronic Circuits: A Sensitivity‑Based Approach by Randomized Algorithms

    Авторы: Alippi C., Catelani M., Fort A., Mugnaini M.

    Описание: В данном документе рассматривается вопрос диагностики на основе доиспытательного моделирования аналоговых электронных схем.

  36. Time Domain Technique for Fault Diagnosis of Analog Circuits with Flexible Accuracy Algorithm

    Авторы: Prasannamoorthy V., Devarajan N.

    Описание: В данной статье авторы предлагают технику обнаружения неисправностей, основанную на временных интервалах, с использованием спецификаций и характеристик схемы.

  37. A Neural Network based Approach for Testing Analog Circuits with Frequency Domain Classification and Time Domain Testing

    Авторы: Palaniswamy A., Jayasumana A., Malaiya Y.

    Описание: В данной статье приводятся некоторые результаты исследований, а также анализ ответов тестируемых схем в различных условиях моделирования ошибок.

  38. Frequency Domain Analog Circuit Fault Diagnosis Based on Radial Basis Function Neural Network

    Авторы: Tsung‑Chih Lin, Ming‑Jen Kuo, Ying‑Chou Chen

    Описание: В данной статье предлагается методика диагностики неисправностей на основе радиальной базисной функции нейронных сетей с целью анализа сигнатур аналоговых схем.

  39. Intelligent Diagnosis of Open and Short Circuit Faults in Electric Drive Inverters For Real‑Time Applications

    Авторы: M. Abul Masrur, ZhiHang Chen, Yi Lu Murphey

    Описание: Статья представляет метод машинного обучения для диагностики неисправностей в приводах асинхронного двигателя.

  40. Case based reasoningas an extension of fault dictionary methods for linear electronic analog circuits diagnosis

    Автор: Carles Pous i Sabadi

    Описание: В данной статье рассматриваются преимущества и недостатки множества методов обнаружения неисправностей.

  41. Fault Diagnosis of Analog Circuits with Tolerances Using Artificial Neural Networks

    Авторы: Ying Deng, Yigang He, Yichuang Sun

    Описание: Данная статья предлагает метод диагностики неисправностей аналоговых устройств на основе нейронных сетей.

  42. A Model‑ Based Approach to Automatic Diagnosis Using General Purpose Circuit Simulators

    Авторы: Dimitrova E.N, Gadjeva E.A, A. Van den Bossche, Valchev V.C.

    Описание: В данной статье рассматривается автоматическая диагностика параметрических неисправностей аналоговых схем с использованием программ моделирования.

  43. Research on Features for Diagnostics of Filtered Analog Circuits Based on LS‑SVM

    Авторы: Bing Long, Shulin Tian, Qiang Miao, Michael Pecht

    Описание: В статье рассматриваются два вектора диагностики неисправностей, полученных при помощи временной и частотной характеристик фильтров.

  44. Electronic Circuits Diagnosis using Artificial Neural Networks

    Авторы: Stosovic M., Litovski V.

    Описание: Полезный отрывок из книги по электроинженерии и диагностике.

    45. Техническая и справочная литература

  45. Национальная библиотека Украины имени В.И. Вернадского

    Крупнейшая библиотека Украины, главный научно-информационный центр государства. Входит в число десяти крупнейших национальных библиотек мира.

    46. Специализированные сайты и порталы

  46. Hard Club

    Сайт, посвященный проектированию аппаратуры, а также ее описанию при помощи языка VHDL.

  47. Electronic Circuits and Projects

    На сайте присутствует архив аналоговых и цифровых схем для пакета проектирования электроники OrCAD.

  48. PSpice Simulation

    Коллекция примеров в виде схем и моделей для программы симуляции аналоговой и цифровой логики PSpice

  49. Портал искусственного интеллекта

    Сайт посвящен различным аспектам и вопросам искусственного интеллекта, в том числе, нейронным сетям.

  50. IEEE official website

    Сайт института инженеров по электротехнике и электронике, содержащий перечень публикаций, научных статей и стандартов.

РЕЗЮМЕ АВТОБИОГРАФИЯ РЕФЕРАТ БИБЛИОТЕКА ССЫЛКИ ОТЧЕТ О ПОИСКЕ СПОРТИВНОЕ ПЛАВАНИЕ